1. Advanced interconnects for ULSI technology /
پدیدآورنده : edited by Mikhail R. Baklanov, Paul S. Ho and Ehrenfried Zschech
کتابخانه: مرکز و کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان‌های اروپایی (قم)
موضوع : Integrated circuits-- Ultra large scale integration,Interconnects (Integrated circuit technology)
رده :
TK7874
.
53
.
A39
2012
2. Analysis and design of digital integrated circuits :in deep submicron technology
پدیدآورنده : Hodges, David A.
کتابخانه: کتابخانه مرکز پژوهش متالورژی رازی (تهران)
موضوع : Design and construction ، Digital integrated circuits,Ultra large scale integration ، Integrated circuits,، Electric circuit analysis
رده :
TK
7874
.
65
.
H64
2003
3. Analysis and design of digital integrated circuits: in deep submicron technology.
پدیدآورنده : Hodges, David A.
کتابخانه: کتابخانه مرکزی دانشگاه صنعتی شاهرود (سمنان)
موضوع : ، Digital integrated circuits- Design and construction,، Integrated circutis- Ultra large scale integration,، Electric circuit analysis
رده :
TK
7874
.
65
.
H64
4. Analysis and design of digital integrated circuits: in deep submicron technology
پدیدآورنده : Hodges, David A.
کتابخانه: كتابخانه مركزی دانشگاه صنعتي شريف (تهران)
موضوع : Design and construction ، Digital integrated circuits,، Integrated circuits-- Ultra large scale integration,، Electric circuit analysis
رده :
TK
7874
.
65
.
H64
2004
5. Applications of finite element methods for reliability studies on ULSI interconnections
پدیدآورنده :
کتابخانه: كتابخانه مركزی و مركز اسناد دانشگاه مازندران (مازندران)
موضوع : Integrated circuits ; Ultra large scale integration. ; Finite element method. ; Reliability (Engineering) ;
6. Applications of finite element methods for reliability studies on ULSI interconnections
پدیدآورنده : Cher Ming Tan ... ]et al.[.
کتابخانه: کتابخانه مرکزی و مرکز اسناد شهید مطهری دانشگاه ولی عصر(عج) (کرمان)
موضوع : Integrated circuits--Ultra large scale integration,Finite element method,Reliability )Engineering(
رده :
TK
7874
.
76
.
A67
2011
7. Applications of finite element methods for reliability studies on ULSI interconnections
پدیدآورنده : / Cher Ming Tan ... [et al.]
کتابخانه: کتابخانه مرکزی، مرکز اسناد و تامین منابع علمی دانشگاه صنعتی سهند (آذربایجان شرقی)
موضوع : Integrated circuits, Ultra large scale integration,Finite element method,Reliability (Engineering)
رده :
E-BOOK
8. Applications of finite element methods for reliability studies on ULSI interconnections
پدیدآورنده : Cher Ming Tan ... [et al.]&
موضوع : Integrated circuits, Ultra large scale integration,Finite element method,Reliability (Engineering)
۲ نسخه از این کتاب در ۲ کتابخانه موجود است.
9. Crystal growth and evaluation of silicon for VLSI and ULSI /
پدیدآورنده : Golla Eranna
کتابخانه: مرکز و کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان‌های اروپایی (قم)
موضوع : Crystal growth,Integrated circuits-- Ultra large scale integration-- Materials,Semiconductor wafers-- Materials,Silicon crystals-- Testing
رده :
TK7871
.
15
.
S55
E73
2015
10. New approaches to image processing based failure analysis of nano-scale ULSI devices /
پدیدآورنده : Zeev Zalevsky, Pavel Livshits, Eran Gur
کتابخانه: مرکز و کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان‌های اروپایی (قم)
موضوع : Integrated circuits-- Ultra large scale integration-- Testing,Microelectronics,Nanoelectronics
11. Semiconductor materials and process technology handbook :for very large scale integration )VLSI( and ultra large scale integration )ULSI(
پدیدآورنده : edited by Gary E. McGuire
کتابخانه: کتابخانه مرکزی دانشگاه صنعتی شاهرود (سمنان)
موضوع : Very large scale integration Design and construction Handbooks, manuals, etc ، Integrated circuits,Ultra large scale integration Design and construction Handbooks, manuals, etc ، Integrated circuits
رده :
TK
7874
.
S4178
2007
12. Semiconductor materials and process technology handbook: for very large scale integration )VLSI( and ultra large scale integration )ULSI(
پدیدآورنده :
موضوع : Handbooks, manuals, etc ، Integrated circuits-- Very large scale integration-- Design and construction,Handbooks, manuals, etc ، Integrated circuits-- Ultra large scale integration-- Design and construction
۳ نسخه از این کتاب در ۳ کتابخانه موجود است.
13. Testing and diagnosis of VLSI and ULSI
پدیدآورنده : edited by Fabrizio Lombardi and Mariagiovanna Sami
کتابخانه: کتابخانه مرکزی و مرکز اطلاع رسانی دانشگاه فردوسی مشهد (خراسان رضوی)
موضوع : Very large scale integration - Testing - Congresses ، Integrated circuits,Ultra large scale integration - Testing - Congresses ، Integrated circuits
رده :
TK
7874
.
N345
1987
14. Testing and diagnosis of VLSI and ULSI
پدیدآورنده :
موضوع : ، Integrated circuits-- Very large scale integration-- Testing-- Congresses,، Integrated circuits-- Ultra large scale integration-- Testing-- Congresses
۲ نسخه از این کتاب در ۲ کتابخانه موجود است.
15. Testing and diagnosis of VLSI and ULSI
پدیدآورنده : NATO Advanced Study Institute on Testing and Diagnosis of VLSI and ULSI )7891: Como, Italy(
کتابخانه: كتابخانه مركزی و مركز اسناد دانشگاه صنعتی خواجه نصير الدين طوسى (تهران)
موضوع : ، Integrated circuits- Very large scale integration- Testing- Congresses,، Integrated circuits- Ultra large scale integration- Testing- Congresses
رده :
TK
7874
.
N345
1987
16. ULSI technology
پدیدآورنده : edited by C.Y. chang, S.M. Sze
کتابخانه: کتابخانه مرکزی دانشگاه صنعتی امیرکبیر (تهران)
موضوع : Integrated circuits - Ultra large scale integration , Metallic films , Lithography , Electrochemical metallizing
رده :
TK
7874
.
76
.
U57
1996
17. ULSI technology
پدیدآورنده :
کتابخانه: كتابخانه مركزی دانشگاه صنعتي شريف (تهران)
موضوع : ، Integrated circuits-- Ultra large scale integration
رده :
TK
7874
.
U374
1996
